高性能な分析機器により、正確な分析を短時間で行います。
　・リアルサーフェスビュー顕微鏡（SEM）＋超高分解能半導体検出器（EPMA）
　　（SEM＝Scanning Electron Microscope）
　　（EPMA＝Electron Probe Micro Analyser）

　欧州RoHS・ELVで規制されている有害物質の測定を、自社にて迅速に対応できます。
　・ICPプラズマ発光分光分析装置

　・原子吸光分光光度計
　・マイクロスコープアナライザー
　・ハルセル試験装置一式
　・金属顕微鏡